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镀层测厚仪的几种工作原理介绍

发布时间:2023-02-09   点击次数:646次
  镀层测厚仪主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测。
  镀层测厚仪的测量工作原理:
  1、磁性测厚法:
  适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢铁银镍。此种方法测量精度高(如:铁等磁性材料)
  2、涡流测厚法:
  涡流测量原理是高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。与磁感应测厚法一样,涡流测厚法也达到了分辨率0.1um,允许误差1%,量程10mm的高水平。
  影响镀层测厚仪的因素有:
  1、试件的变形:丈量头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出牢靠的数据。
  2、边缘效应:本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行丈量是不牢靠的。
  3、基体金属电性质:基体金属的电导率对丈量有影响,而基体金属的电导率与其资料成分及热处理方法有关。运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准。
  4、基体金属厚度:每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,丈量就不受基体金属厚度的影响。
  5、曲率:试件的曲率对丈量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在曲折试件的表面上丈量是不牢靠的。
  6、基体金属磁性质:磁性法测厚受基体金属磁性改变的影响(在实践运用中,低碳钢磁性的改变能够认为是轻微的),为了防止热处理和冷加工因素的影响,应运用与试件基体金属具有相同性质的规范片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
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