技术文章您现在的位置:首页 > 技术文章 > 反射式膜厚仪的三点使用注意事项

反射式膜厚仪的三点使用注意事项

发布时间:2022-10-24   点击次数:51次
  反射式膜厚仪对材料表面起保护,装饰作用的覆盖层,如涂层,镀层,敷层,贴层,化学生成膜等,在一些国家和国际标准中称为覆层。
  覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要环节,是产品达到优等质量标准的必要手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确要求。
  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法,光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,X射线荧光法,β射线反向散射法,电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。
  反射式膜厚仪的使用注意事项:
  1.零点校准
  在每次使用膜厚仪之前需要进行光学校准,因为之前的测量参数会影响该次对物体的测量,零点校准可以消除前次测量有参数的影响,能够降低测量的结果的误差,使测量结果更加精确。
  2.基体厚度不宜过薄
  在使用反射式膜厚仪对物体进行测量时基体不宜过薄,否则会极大程度的影响仪器的测量精度,造成数据结果不准确,影响测量过程的正常进行。
  3.物体表面粗糙程度
  对于被测物体的表面不宜太过粗糙,因为粗糙的表面容易引起光的衍射,降低了光学测量仪的测量精度,造成很大的误差。所以被测物体的表面应该尽量保持光滑,以保证测量结果的精确性。
苏州瑞格谱光电科技有限公司

苏州瑞格谱光电科技有限公司

地址:苏州工业园区唯华路5号君风生活广场17幢

© 2022 版权所有:苏州瑞格谱光电科技有限公司  备案号:苏ICP备20007395号-2  总访问量:52740  站点地图  技术支持:化工仪器网  管理登陆

QQ在线客服
联系方式

18913158721