AG防眩层膜厚仪: 按照客户需求搭建的防眩薄膜厚度特性表征工具。 AG防眩层膜厚仪 是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备，可用于表征厚度范围为1nm-1mm 的防眩膜层。 AG防眩层膜厚仪 是为客户量身定制的，并广泛应用于各种不同的应用。 比如： 吸收率/透射率/反射率测量，薄膜特性在温度和环境控制下甚至在液体环境下的表征等等…